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物理系研究成果獲登Nature:利用剖面型掃描穿隧顯微能譜術(shù)參與合作

更新日期:111年10月12日

圖1:物理系研究成果獲登Nature:利用剖面型掃描穿隧顯微能譜術(shù)參與合作

物理系研究成果獲登Nature:利用剖面型掃描穿隧顯微能譜術(shù)參與合作

臺(tái)灣大學(xué)物理系教授邱雅萍研究團(tuán)隊(duì)(碩士生楊子良、博士黃柏超)參與香港大學(xué) (Prof. Lain-Jong Li)、澳洲New South Wales大學(xué)(Prof. Sean Li)等團(tuán)隊(duì)的研究工作(High-κ perovskite membranes as insulators for two-dimensional transistors),此研究成果已正式發(fā)表在2022年5月的Nature期刊。

研究的突破性和新穎性,是研究團(tuán)隊(duì)使用可轉(zhuǎn)移的高介電鈣鈦礦薄膜(SrTiO3),成功使二硫化鉬(MoS2)二維材料電晶體的電容等效厚度(Capacitance Equivalent Thickness, CET)達(dá)到次奈米尺度,並且達(dá)成短通道MoS2 場效電晶體的SS因子(Subthreshold-swing)紀(jì)錄最低值(79mV/dec)。鈣鈦礦有多元的材料選擇性及成熟的製作技術(shù),其可轉(zhuǎn)移的特性,在此研究中成功提升短通道二維材料電晶體的表現(xiàn),也為未來元件三維整合提供一條新的路徑。

邱雅萍教授研究團(tuán)隊(duì)利用剖面掃描穿隧顯微術(shù)(cross-sectional STM),檢測該元件介面處的高解析(sub-1nm)電子結(jié)構(gòu)資訊。藉由分析鈣鈦礦薄膜(SrTiO3---與二維材料(MoS2)及其與電極之間的特徵態(tài)密度(density of states),提供該元件介面處的高解析(sub-1nm)電子結(jié)構(gòu)資訊,展示可轉(zhuǎn)移的鈣鈦礦薄膜(SrTiO3---介面電性的二維特質(zhì)。

這是國際上首次利用剖面型掃描穿隧顯微術(shù)檢測二維材料電晶體,提供原子級(jí)介面處電子結(jié)構(gòu)的直接證據(jù)。未來將繼續(xù)利用這項(xiàng)關(guān)鍵檢測技術(shù),探討低維度半導(dǎo)體電晶體關(guān)鍵介面科學(xué)相關(guān)課題。

本研究成果已於2022年5月11日發(fā)表於Naturehttps://www.nature.com/articles/s41586-022-04588-2。

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